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WT-SDUT系列通用地测设备
产品中心 WT-SDUT系列通用地测设备
产品概述

WT-SDUT系列通用地面测试设备是我公司针对卫星载荷地面单机调试、单机测试、分系统测试以及系统测试应用而开发的地面测试系统。可在全仿真环境下,测试卫星综合电子分系统、星务分系统、卫星载荷系统及其他分系统以及每台单机的功能、性能以及在各种边界条件下的运行状态是否满足设计要求。

通用化地测设备可提供LVDS数传数据接收/发送接口,RS422接口信号、OC接口信号、1553B接口信号、CAN总线接口、电压型DA信号、可变电阻信号、可配置周期脉冲信号、电压型AD信号等接口信号。通过上层软件可对通用化地测设备各接口模块进行配置、调用,用来模拟星载计算机的各接口模块,验证被测星载计算机各模块的功能。能够实现对被测星载计算机发送信号的解析,并根据需要发送特定协议帧格式的数据给被测星载计算机的接收端口,实现对星载计算机的闭环测试。

WT-SDUT系列通用地面测试设备具备网络接口,可通过网络协议接口与远程服务器进行连接,做到远程闭环测试,且可通过网络与其他的测试系统相连,实现资源共享,节约成本。


功能特性

WT-SDUT系列通用地面测试设备架构如下图所示,由CPCI机箱、CPCI IO功能板卡、上层测试软件构成。该测试设备是一个基于CPCI总线的紧凑型测试设备,通过选配不同功能接口的CPCI IO功能板卡适应星载计算机设备的测试需求,具备灵活、快速的特点。CPCI板卡充分利用CPCI总线高速带宽的特性,大幅提高板卡集成度和接口通道数,减少功能板卡数量,满足系统紧凑的要求。

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     设备框架图

WT-SDUT设备模拟卫星平台对卫星有效载荷的管理,主要提供控制总线(如1553B总线、RS422/485总线等)、OC指令、电压监视、温度监视等,由一个工控机+若干IO模块组成。

并通过工控机网络连接到整个测试系统局域网中,接收来自界面系统的指令,将遥测数据传给界面系统。

WT-SDUT通用测试设备安装了1553、CAN、422、LVDS、OC、AD模块,驻留了各模块驱动软件、API动态链接库、传输网络服务端。API负责调用驱动软件与硬件进行通讯,实现对各IO模块的映射和管理,为网络服务端软件提供API接口。

用户PC机中驻留网络客户端和应用软件。网络客户端与服务端建立网络通讯,并实现对网络的管理。应用软件调用客户端软件实现在以太网上对测试设备的远程控制和管理,提供测试管理和控制、数据下载、实时显示、事后分析等应用功能。

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扩展系统架构

WT-SDUT通用测试设备,和用户其它测试设备通过网络进行集成,形成集成测试平台。规划的网络拓扑结构如图所示,WT-SDUT通用测试设备和其它测试设备作为测试前端,与被测系统连接,并通过以太网交换机与系统服务器连接,服务器实现对WT-SDUT通用测试设备的统一管理和控制。用户PC机通过网络与服务器连接,实现远程控制和人机交互。

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扩展系统软件框图

在进行系统集成时,WT-SDUT通用测试设备上的软件包括驱动、API、网络服务端程序,不需要做任何改动。设备网络客户端,为用户进行系统扩展和集成,提供了二次开发平台,用户可以在服务器和用户PC机上,开发用户测试系统服务端、用户系统客户端和用户应用软件,完成系统集成测试。

 

 


典型应用

WT-SDUT地检设备在某卫星载荷系统测试中主要功能是模拟载荷管理单元、多路复接器等设备,对分系统进行测试,并对二次电源进行遥测遥控。

a. 模拟载荷管理单元,向分系统发送1PPS秒脉冲(RS422);

b. 模拟载荷管理单元,向分系统发送转台转角信息(RS422);

c. 模拟载荷管理单元通过网口接收计算机地检软件发出的工作模式等控制命令,转为CAN总线控制命令,送给分系统;

d. 模拟载荷管理单元,可接收分系统采集到的遥测量(温度遥测、工作状态遥测等),通过网口送给计算机地检软件在界面上显示;

e. 模拟载荷管理单元,向二次电源发送OC指令,并采集二次电源模拟电压遥测量;

f. 模拟多路复接器,可接收分系统发送的LVDS数传和RS422数传数据;

g. 具备带时标的指令启动信号,各板卡可根据时标启动指令的发送;

h. 能够接收GPS的PPS信号进行设备同步;

i. 能够通过异步串口接收GPS或北斗的数据,并通过CAN接口转发;

       j. 能够通过异步串口接收基准源数据,并通过异步串口接口输出。

为了实现地检设备模拟卫星设备互连工作仿真,需要将各IO模块接口互连已达到时序统一的目的。因此需要通过内部或者外部信号实现不同地检设备、同一地检设备的不同模块的互连。

WT-SDUT系列通用地面测试设备可针对不同卫星平台与型号的星载计算机与下位机进行闭环与开环的测试,通过上层软件的配置达到通用性。并可提供航天系统常用的多种信号的激励与采集,且各信号的路数众多,实现设备的高测试覆盖性。