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JITG边界扫描软件平台CASCON™
      • 可伸缩的平台、超过40种集成工具和直观的用户界面
      • 基于智能工具和自动化系统操作的简单、快速和面向目标的项目开发
      • 集成的安全功能，使用测试程序保证安全，避免了对硬件产生损伤
      • 交互式可视化的布局边界扫描；用于图像分析和调试的原理图和逻辑电平
      • 支持适用于内部和外部设备边界扫描的不同测试和编程机制
      • 通过使用完整的无边界扫描电路，可扩展测试覆盖率和精确的故障诊断

边界扫描硬件设备SCANFLEX® 和 SCANBOOSTER™
      • 可扩展的高性能平台，可使用80MHZ的频率最多同时对8个平行独立的TAP接口进行扫描
      • 分开控制的I/O模块，可进行可重构模拟，数字和模拟混合信号功能
      • 优良的TAP信号传输质量（距离10米，提供完好的信号和时间延迟补偿）
      • 提供对大量测试和边界扫描仿真、编程策略的广泛支持
      • 可自由配置的控制器，I/O模块，可伸缩系统配置的TAP收发器和TAP接口卡（TIC）

扫描软件CASCON™
       JTAG/边界扫描成功的关键是取决于应用软件的质量，在最近20年的跨越式创新发展中，SYSTEM CASCON™是全球使用最多的JTAG边界扫描软件平台。其软件特点及功能见下图：

边界扫描软件CASCON界面示意图

CASCON™可被应用在超过50种不同环境下
      • 扩展边界扫描测试：
               ◆ 标准测试（集群、存储器等）
               ◆ 先进AC网络测试（IEEE 11149.6）
               ◆ 先进算法集群测试（波形、高级语言）
               ◆ 通过仿真的测试和诊断（IEEE 1445）
               ◆ 先进算法混合信号测试（脚本）
               ◆ 对传感器和执行器的交互式测试
      • 动态仿真试验
               ◆ 用于存储器（sRAM,dRAM）
               ◆ 用于总线设备及系统接口
      • Flash/PLD/MCU程序设计
               ◆ 边界扫描高速Flash编程
               ◆ 基于Flash编程的仿真及MCU的片上Flash编程
               ◆ 使用外部接口的串行Flash编程
               ◆ PLD编程（JAM/STAPL/SVF）
               ◆ 并行PLD编程（IEEE 1532）
      • 控制外部设备
               ◆ 使用内部电路测试引进的交互式测试
               ◆ 飞行探测器的交互式测试
               ◆ I/O功能测试和软件接口的交互式测试
      • 图形化分析和调试
               ◆ 经图形设备库进行的BSDL认证
               ◆ 在布局上对于错误覆盖率的自适应分析
               ◆ 在原理和布局上的交叉调试
               ◆ 硬件监视的测试程序调试
               ◆ 对每个交互式布局引脚的硬件调试
平台具有高度的灵活性
      • 位于系统中的测试设备
               ◆ 数字边界扫描测试（IEEE 1149.1/6）
               ◆ 通过IEEE 1149.1的高速Flash编程
               ◆ PLD编程（JAM/STAPL,SVF,IEEE 1532）
               ◆ 通过JTAG调试接口的功能仿真测试
               ◆ 经过模拟的高速FLASH编程
               ◆ 片上验证和测试IP的控制
               ◆ 内置自检（BIST）的控制
       • 位于系统外的测试设备
               ◆ 数字I/O和，模拟I/O（静态/动态）
               ◆ 对串口FLASH的编程（SPI/I2C）
               ◆ 控制第三方I/O（ICT,FPT,FCT）等

灵活定义的生产测试
      在任何质量保证策略中，测试都是一个重要的组成部分。但是每种产品和生产环境都对测试设备提出了不同的要求。针对这种挑战，GOEPEL开发了灵活的系统解决方案以适应不同的生产过程，并在没有损失的情况下整合现有的环境。能将测试工具直接插入生产过程，以快速满足快速新产品的需求。

完善设备的测试手段
      • 针对Flash/PLD的最小测试时间和最快编程速度提供了完整的在线能力和很高的压缩率
      • 对引脚的探测和精确诊断以及布局缺陷的显示，比如BGA焊点在应用中的短路或断路
      • 用于ATE或AOI系统的完全交互边界扫描向量测试可产生最高的错误覆盖率
      • 提供LabVIEW,TestStand, C / C++, Basic, Tcl / Tck, Python等的标准控制接口
      • 支持浮动License机制以满足高效利用系统的需求，通过文件归档和在线故障数据跟踪实现的快速项目转移
另外采用边界扫描测试设备，具有如下的优势：
      • 诊断、探测高密度芯片存在的问题，如SMTs 和BGAs的管脚越来越密,更多的是没有管脚外露的BGA/FQP/LPQ等封装，通过该技术可以判断芯片焊接和电路版SMT的好坏；
      • 互联测试，主要检测电路板级的开路、短路、虚焊或呆滞型等故障；
      • 存储器测试，可以对各种存储器，如SRAM,SDRAM,DDR,DDR2,DDR3等存储器测试其故障；
      • FLASH 编程功能，用于生产过程中的程序加载，支持并行，SPI,I2C,NAND等各种FLASH的编程功能；
      • 对FPGA,CPLD芯片具有 编程功能，通过JTAG接口，可以实现常见的可编程器件的在线编程，简化生产流程；
      • 采用该技术可以迅速提升测试覆盖率，从而确保在实际设计和规模化量产中的高效率应用；
      • 同样可以大大减少生产测试的准备和实施费用。